产品展示SBJDCS系列高频介电常数及介质损耗测试仪选型 功能升级
发布者：扬州市拓腾电气有限公司 发布时间：2016/11/5SBJDCS-A/B/B+/C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
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型号 |
SBJDCS-A |
SBJDCS-B |
SBJDCS-B+ |
SBJDCS-C |
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工作频率范围 |
10kHz～60MHz |
10KHz-70MHz |
10KHZ-110MHZ |
50kHz～160MHz |
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显示 |
五位数显 DDS数字合成 |
LCD显示 6位有效数 DDS数字合成 |
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Q值测量范围 |
1～1000三位数显，±1Q分辨率 |
1～1000四位数显，±0.1Q分辨率 |
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可调电容范围 |
40～500pF ΔC±3pF |
28～490pF 0.1pF分辨率 |
14～230pF 0.1pF分辨率 |
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电容测量误差 |
±1%±1pF |
±0.5%±0.5pF |
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测试仪残余电感值 |
约20nH |
约20nH |
约8nH |
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